机译:具有高弯曲稳定性的顶部和底部栅极的阈值电压偏移圆形氧化膜晶体管
Kyung Hee Univ Dept Informat Display Coll Sci Seoul 02447 South Korea;
Kyung Hee Univ Dept Informat Display Coll Sci Seoul 02447 South Korea;
Kyung Hee Univ Dept Informat Display Coll Sci Seoul 02447 South Korea;
Kyung Hee Univ Dept Phys Coll Sci Seoul 02447 South Korea;
thin-film transistor; circular; corbino; volume accumulation; bulk accumulation; oxide semiconductor; stability;
机译:顶栅纳米晶硅薄膜晶体管的阈值电压不稳定性模型
机译:栅极电介质对非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管阈值电压不稳定性的影响
机译:栅极/漏极电压配置对具有自对准顶栅结构的非晶铟锌氧化物薄膜晶体管中电流应力不稳定性的影响
机译:高场下底栅多晶硅薄膜晶体管的阈值电压漂移
机译:底栅纳米晶体硅薄膜晶体管的制作与分析。
机译:氧含量对底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管电流应力诱导的不稳定性的影响
机译:栅极偏压和漏极偏压应力下聚合物薄膜晶体管的阈值电压不稳定性