机译:AlN膜厚度和顶部电极材料对薄膜体声波谐振器器件特性的影响
Department of Electrical Engineering, National Cheng Kung University, Tainan 701, Taiwan, R.O.C.;
thin films; piezoelectric; acoustic-wave; surface roughness;
机译:用于薄膜体声波谐振器的沉积在Mo电极上的AlN薄膜的性能表征
机译:压电薄膜和电极材料对薄膜体声波谐振器特性的影响
机译:模耦合对部分电极薄膜体声波谐振器振动特性的影响
机译:压电和电极材料厚度对薄膜压电谐振器性能影响的优化分析
机译:AlN薄膜体声波谐振器的制作与表征。
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机译:陷阱 - 能量厚度 - 部分电极ZnO薄膜谐振器的延伸模式
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