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机译:SiO_2隧穿氧化物厚度对Si纳米晶点浮栅存储器中电子隧穿机理的影响
Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology, 8916-5 Takayama, Ikoma, Nara 630-0192, Japan;
Si nanocrystal dots; floating-gate memory; MOSFETs; side-wall PECVD;
机译:通过硅纳米晶点浮栅存储器进行电荷传输的隧道氧化物厚度的实验研究
机译:纳米Al_2O_3 / HfO_2 / SiO_2多层堆叠隧道氧化物的带隙工程
机译:SiO_2 / HfO_2或Al_2O_3 / HfO_2堆栈的非易失性存储器的可变氧化物厚度隧道势垒的电荷俘获特性
机译:使用单电子隧穿效应在隧道氧化硅内的SI量子点中进行非易失性存储
机译:用于浮栅非易失性存储器应用的高级隧道电介质。
机译:透射电子显微镜观察Al晶粒尺寸晶界沟槽与Al / AlOx / Al隧道结氧化物势垒厚度局部变化的相关性
机译:纳米晶体形成的依赖性和三层存储器结构的电荷存储/保持性能对锗浓度和隧道氧化物厚度的影响