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Comparison of Electrical, Optical, and Structural Propertiesrnof RF-Sputtered ZnO Thin Films Deposited Under Different Gas Ambients

机译:在不同气体环境下沉积的RF溅射ZnO薄膜的电,光学和结构性质的比较

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摘要

Transparent conducting ZnO:Al thin films were prepared by rf-magnetron sputtering under different gas ambients at 300℃. The electrical resistivity varied from 1.23×10~(-1) to 2.8×10~(-4) Ω cm introducing O_2 and H_2 gas with Ar ambient. The minimum sheet
机译:射频磁控溅射在300℃不同气体环境下制备了透明导电ZnO:Al薄膜。电阻率从1.23×10〜(-1)到2.8×10〜(-4)Ωcm变化,在Ar环境下引入O_2和H_2气体。最小张数

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