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机译:深度缩放pMOSFET的负偏置温度不稳定性寿命预测的差异分析方法
Nanjing Univ, Coll Elect Sci & Engn, Nanjing 210093, Jiangsu, Peoples R China;
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机译:负偏置温度不稳定性下纳米SiON pMOSFET功率定律参数的提取方法
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子在超深亚微米p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOSFET)中的作用
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子在超深亚微米p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOSFET)中的作用
机译:亚微米PMOSFET的负偏置温度不稳定性表征和寿命评估
机译:二氧化硅和基于等离子体氮化的氧化物的pMOSFET的负偏置温度不稳定性所涉及的原子尺度缺陷。
机译:在主观症状评级量表上具有统计学意义的抗抑郁药-安慰剂差异不能证明药物有效:效应大小和方法偏见!
机译:表征pmOsFET的负偏压温度不稳定性和寿命预测