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机译:扫描非线性介电显微镜定量测量极性反转的压电薄膜层的厚度
Kumamoto Coll, Natl Inst Technol, Kumamoto 8611102, Japan;
Kumamoto Coll, Natl Inst Technol, Kumamoto 8611102, Japan;
Kumamoto Coll, Natl Inst Technol, Kumamoto 8611102, Japan;
Kumamoto Coll, Natl Inst Technol, Kumamoto 8611102, Japan;
Waseda Univ, Shinjuku Ku, Tokyo 1698555, Japan;
Tohoku Univ, Sendai, Miyagi 9808577, Japan;
机译:用扫描非线性介电显微镜测量介电薄膜中极性反转的层状结构的方法
机译:导电悬臂扫描非线性介电显微镜对介电性能的定量测量
机译:使用扫描非线性介电显微镜直接测量畴壁厚度
机译:扫描非线性介电显微镜成像机理的理论及其在铁电和压电材料线性和非线性介电性能的定量评估中的应用
机译:铱修饰的硅表面和石墨上有机分子自组装单层的扫描隧道显微镜/光谱测量和密度泛函理论计算
机译:散射扫描近场光学显微镜高分辨率定量测定介电函数
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:n-烷硫醇盐单层在银纳米结构上的自组装:扫描隧道显微镜测定单层膜的表观厚度