机译:用于半导体机械控制的SPC中的数据转换:监视粒子的情况
Department of Business Management, National Taipei University of Technology, No. 1, Section 3, Chung-Hsiao E. Road, Taipei 106, Taiwan ROC;
machinery control; semiconductor manufacturing; control chart; particle counts;
机译:监测从纳米线到纳米立方体的形状转变以及配位聚合物颗粒的尺寸控制形成
机译:自相关数据对复合板生产监控的影响:SPC技术的比较
机译:统计过程控制,用于监控半导体制造中具有零计数的粒子
机译:一种有效的SPC方法,可通过多个变化源监视半导体质量数据
机译:用于智能产品数据管理的结构化产品编码系统(SPCS)。
机译:人工光合作用中的低维半导体:粒子/准粒子之间相互作用的前景
机译:使用统计过程控制(SPC)图表监测血管外科手术性能:案例研究和两种监测方法的比较
机译:坐标测量机的统计过程控制(spC)。使用spC和监控标准工件来确定和控制受控环境中的测量不确定度