机译:欧盟压力测试迫在眉睫
机译:在多层up锻测试中确定金属薄板的流变应力和接触摩擦
机译:人造神经网络在机载卫星图像处理中的鲁棒性:up缩模拟和地面测试的结果
机译:电压应力对65 nm触发器的单事件翻转(SEU)响应的影响
机译:动态应力的商用SRAM阵列上中子引起的多位不安
机译:静态随机存取存储器中多个细胞不适的模式识别:实验测试结果与单事件不适机制的相关性。
机译:由于18周的诊断目标迫在眉睫成千上万的患者等待测试超过26周
机译:应用反应堆测试商用sRam中子引起的扰动
机译:用于256k静态Ram(随机存取存储器)的sEU(单事件翻转)测试技术以及重离子和质子引起的扰乱的比较