机译:Power-Cons训练的不可扫描的BIST可用RTL数据路径的测试综合和调度算法
Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (NAIST), Ikoma- shi, 630-0192 Japan;
design for testability; RTL data path; built-in self-test; low power testing; test scheduling;
机译:分析RTL数据路径的路径延迟故障可测试性:一种非扫描方法
机译:分析RTL数据路径的路径延迟故障可测试性:一种非扫描方法
机译:分析RTL数据路径的路径延迟故障可测试性:非扫描方法
机译:功率受限的DFT算法用于不可扫描的BIST RTL数据路径
机译:危险材料运输的路由和计划:管理大量核燃料运输(多目标,最短路径,曲线)的算法方法。
机译:基于距离密度峰最短路径的可训练聚类算法
机译:BIsT RTL数据路径的功耗意识测试综合与调度
机译:自动数据路径合成中基于统计的调度算法