built-in self test; design for testability; scheduling; automatic test pattern generation; power consumption; power-constrained DFT algorithms; RTL data paths; power-constrained test synthesis; test scheduling algorithms; boundary non-scan BIST; low hardware overhead; generic non-scan BIST; test application time; power dissipation;
机译:Power-Cons训练的不可扫描的BIST可用RTL数据路径的测试综合和调度算法
机译:分析RTL数据路径的路径延迟故障可测试性:一种非扫描方法
机译:分析RTL数据路径的路径延迟故障可测试性:一种非扫描方法
机译:用于非扫描BIST-CHERST RTL数据路径的功率约束DFT算法
机译:功率受限的无线传感器网络的共识算法。
机译:基于混合负选择算法和遗传算法的最优路径测试数据生成
机译:RT级数据路径的非扫描可测试性设计
机译:pFa(素因子算法),WFTa(Winograd傅立叶变换算法),sWIFT,mFFT(混合基线快速傅里叶变换),FFT(快速傅立叶变换)和DFT(离散傅立叶变换)算法的算术要求的比较。