机译:使用卡滞测试向量最大化卡滞故障覆盖率
Graduate School of Science and Engineering, Ehime University, Matsuyama-shi, 790-8577 Japan;
fault simulation; test generation; stuck-open faults; stuck-at tests; defect coverage;
机译:一种使用布局信息评估和提高测试质量的方法-一种基本方法和一些示例(桥梁故障Iddq测试,加权卡住的故障覆盖率)
机译:一种使用布局信息评估和提高测试质量的方法-一种基本方法和一些示例(桥梁故障Iddq测试,加权卡住的故障覆盖率)
机译:一种使用布局信息估算和提高测试质量的方法 - 基本方法和一些例子(桥式故障IDDQ测试,加权卡在故障覆盖范围)
机译:通过为卡住开放断层产生测试向量提高缺陷覆盖率
机译:使用传统的基于故障卡住的自动测试模式生成工具来最大化非目标缺陷检测。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:卡住元组检测:基于卡死故障的故障模型,可提高缺陷覆盖率
机译:通过减少I(子DDQ)测试集来增加固定故障覆盖率