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Stuck-At Tuple-Detection: A Fault Model based on Stuck-At Faults for Improved Defect Coverage

机译：卡住元组检测：基于卡死故障的故障模型，可提高缺陷覆盖率

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Irith Pomeranz; Sudhakar M. Reddy;
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年度 1998
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1. Test generation for path delay faults based on test set for stuck-at faults [J] . Ryo Mizumoto, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 電子情報通信学会技術研究報告. フォ-ルトトレラントシステム . 2000,第250期

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2. Test generation for path delay faults based on test set for stuck-at faults [J] . Ryo Mizumoto, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu 電子情報通信学会技術研究報告. フォ-ルトトレラントシステム . 2000,第250期

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4. Stuck-at tuple-detection: a fault model based on stuck-at faults for improved defect coverage [C] . Pomeranz, I., Reddy, . 1998

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8. Increased stuck-at fault coverage with reduced I(sub DDQ) test sets [R] . Fritzemeier, R R, Soden, J M, Treece, R K, 1990

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