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机译:片上噪声监测的探测前端电路的性能评估
Graduate School of System Informatics, Kobe University, Kobe-shi, 657-8501 Japan;
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Graduate School of System Informatics, Kobe University, Kobe-shi, 657-8501 Japan;
Graduate School of System Informatics, Kobe University, Kobe-shi, 657-8501 Japan;
behavioral modeling; waveform data acquisition; power supply noise; substrate noise; diagnosis of VLSI circuits;
机译:用于带有片上前端FET的硅探测器的八通道低噪声CMOS读出电路
机译:具有片上电压一致性监视电路的0.034%电荷不平衡神经刺激前端(SFE)IC,并通过使用SFE IC分析静息电位
机译:VLSI电路中片上功率噪声测量的连续时间波形监视技术
机译:用于带有片上前端JFET的硅探测器的8通道低噪声CMOS电路
机译:高性能CMOS集成电路中的片上互连噪声。
机译:寄生成分影响下硅光电倍增器的前端电路的分析研究
机译:基于高性能soC的集成电路的片上功耗降噪技术