机译:离散电荷引起的可变性对定标MOS器件的影响
Renesas Electronics Corp., Sagamihara-shi, 252-5298 Japan;
variability; reliability; random dopant fluctuation; random telegraph noise;
机译:低频噪声变异性对超大规模CMOS器件统计参数提取的影响
机译:过程引起的可变性对Ge_2Sb_2Te_5相变存储器件性能和缩放的影响
机译:功函数变异性对MOS器件阈值电压变异性影响的理论与实验
机译:使用大规模蒙特卡罗模拟对高级EUV节点晶圆变异性影响的统计分析
机译:夏季北极重力波活动的天气尺度变化及其对高纬度中层大气的潜在影响
机译:前驱体化学和工艺条件对基于1T-1R的HfO2 RRAM器件中细胞间变异性的影响
机译:塑造鱼类聚集装置和鱼类增强装置(FEDS)的影响及其对管理小规模渔业的影响
机译:加州的天然气变化:环境影响和设备性能。住宅炉灶污染物排放的燃烧模型