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P型伝導InN実現とその物性評価: 現状と問題点について

机译:P型导电InN的实现及其物理性能评估:现状与问题

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摘要

Successful p-type doping of InN up to the net acceptor concentration of ~3×10~(19)cm~(-3) has been confirmed by analyzing electrolyte capacitance-voltage characteristics (ECV) for Mg-doped InN samples grown by MBE. It was found that overdoped [Mg] introduce shallow donors in InN resulting in the conduction type change into n-type again. Electrical, optical and crystalline-structural properties of Mg-doped InN samples, in which [Mg] concentration was very widely varied in the range from 10~(16) to 4×10~(21) cm~(-3), were also investigated. Present status and future prospects as well as some related problems for achieving p-type InN are discussed in this paper.%InNは伝導帯下端の位置が低いことからnative defectsの電子レベルが伝導帯内部に形成され、高濃度の表面・界面電子蓄積層が現われるため、通常のホール効果による測定では、p型伝導特性を評価することが難しい。本論文では、MBE法により高純度化および高品質化を図ったInNにアクセプタ不純物としてMgを広い濃度範囲で添加し、電界液を用いた容量-電圧(ECV)特性評価を中心にp型伝導の制御性を検討した。その結果、アクセプタ濃度が3×x10~(19)cm~(-3)程度まではp型伝導を実現できること、また、それ以上のMg濃度では過剰ドープ効果によりドナ性の欠陥が誘起され、再びn型伝導結晶になることがわかった。本論文では、InNのP型伝導制御と関連事項について、ECV評価法の問題点などを含み、その現状と問題点をまとめた。
机译:通过分析MBE生长的掺Mg的InN样品的电解质电容-电压特性(ECV),已证实InN的p型掺杂成功达到了〜3×10〜(19)cm〜(-3)的净受体浓度。研究发现,过量掺杂的[Mg]在InN中引入浅的施主,导致导电类型再次变为n型。[Mg]浓度范围很广的掺杂Mg的InN样品的电,光学和晶体结构性质还研究了从10〜(16)cm到(4)10〜(21)cm〜(-3)范围的变化。讨论了实现p型InN的现状和未来前景以及一些相关问题。由于纸中InN%中的导带的下端较低,因此在导带内部形成了自然缺陷的电子能级,并且出现了高浓度的表面/界面电子累积层。难以评估导电特性。在本文中,p型导电集中于使用电解液的电容-电压(ECV)特性评估,方法是将MBg方法已高度纯化并提高了质量的InN加入宽范围浓度范围的Mg作为受体杂质。研究了的可控性。结果,可以实现高至约3×x 10至(19)cm至(-3)的受主浓度的p型导电,并且在高于该浓度的Mg浓度下,由于过量掺杂效应而再次引起供体缺陷。原来是n型导电晶体。在本文中,我们总结了InN P型传导控制及其相关事项的现状和问题,包括ECV评估方法的问题。

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