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スピンエッチングによるφ300mmウェハのステイン膜形成

机译:通过旋转蚀刻在φ300mm晶片上形成污渍膜

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摘要

従来、浸漬式によるステイン膜(ポーラスシリコン)形成が報告されている。スピンエッチングを用いた表面処理技術としてステイン膜形成を試みる。ステイン膜のアプリケーションとしては、薄ウェハ化後の裏面膜絶縁、保護、3次元実装等への応用が考えられる。ウェハは300mm P型ウェハを使用する。HF:HNO3:H2Oを用い薬液組成を検討した。スピンエッチングではウェハ上の薬液の流れ方でステイン膜厚の分布が変化するため、エッチングパラメータの最適化を行った。その結果ステイン膜をウェハ全面で均一に形成できた。%The Stain film (porous silicon) formation by an immersion type is reported. The Stain film formation on 300mm wafer is tried as surface treatment technology using SPIN ETCH.
机译:迄今为止,已经报道了通过浸没法形成污斑膜(多孔硅)。尝试使用旋转蚀刻形成污渍膜作为表面处理技术。污渍膜的应用包括减薄后的背面膜绝缘,保护和三维安装。将300mm的P型晶片用作晶片。使用HF:HNO3:H2O研究化学成分。在旋转蚀刻中,污斑膜厚度的分布根据晶片上化学溶液的流动而变化,因此蚀刻参数被优化。结果,可以在晶片的整个表面上均匀地形成污斑膜。 %报道了通过浸没型形成的污渍膜(多孔硅)。尝试使用SPIN ETCH作为表面处理技术在300mm晶片上形成污渍膜。

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