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On Orthogonal Ray Graphs with Applications to NanoPLA Design

机译:正交射线图及其在NanoPLA设计中的应用

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摘要

Motivated by defect tolerance schemes for nanotechnology circuits, the orthogonal ray graphs, a new class of intersection graphs, are introduced and investigated.
机译:出于纳米技术电路的缺陷容忍方案的动机,引入并研究了正交射线图,一类新的相交图。

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