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【24h】

Taマスクを用いた下地層エッチングによるGaN再成長

机译:使用Ta掩模通过底层蚀刻进行GaN再生

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摘要

サファイア基板上に有機金属気相成長(MOCVD)法を用いて成長したGaN上にタンタル(Ta)マスクを形成し,再度,MOCVD法でGaN成長を行うと,Taマスク下地層GaNに対して選択的なエッチングが起こり,空洞を形成することがわかった.金属の触媒作用の影響によって下地層GaNがエッチングされるという報告がある.また,下地層GaNのエッチングはTaマスクの膜厚に依存し,Ta蒸着後の試料表面に対してエネルギー分散型X線(EDX)分析を行うと,Taマスク領域から酸素が検出された.%Two step growth of GaN is performed, and the metal which is selectively sandwiched into GaN is formed. A GaN downward is etched away when Ta is selectively there. The mechanism is that TaN is formed at high temperature and separate into two, Ta and N2 gas. TaN is again formed, and the rest is in the same way. The usefulness of this technique is the use of the reflectance layer for the UV-LED which emits shorter than 370 nm.
机译:如果通过金属有机气相外延(MOCVD)在蓝宝石衬底上生长的GaN上形成钽(Ta)掩模,并通过MOCVD再次生长GaN,则选择Ta掩模下层GaN。已经发现,由于金属的催化作用而蚀刻了下层GaN,并且下层GaN的蚀刻取决于Ta掩模的厚度。 Ta沉积后,样品表面的能量色散X射线(EDX)分析显示在Ta掩模区域中检测到了氧气。%进行GaN的两步生长,并选择性地将其夹在中间形成GaN,当有选择地放置Ta时向下蚀刻掉GaN,其机理是TaN在高温下形成并分成Ta和N2两种气体,再次形成TaN,其余以相同的方式形成。该技术的有用之处在于将反射层用于发射小于370 nm的UV-LED。

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