相関関係が存在する部分パスの遅延解析

摘要

This paper proposes an estimation method of the sub-paths with correlations. In recent years, the process variation may degrade the yield. One of the reasons of less yield is timing error. The timing error is caused by the variation from the expected value on the design changing the clock arrival times of Filp-flops(FFs) and the path-delays between FFs. To recover this error, it is important to recognize the condition of the chip, especially the path-delay time. For the recognition of the delay, the estimation method of sub-paths with path-delay tests has been proposed. The method is mathemetically correct, but it needs any pair of sub-paths is independent. In this paper, the estimation is enhanced to the varitions with correlation. The proposed method utilizes that the variations with the correlation are described by the weight sum of independednt random number using the coefficient from the correlations. We confirmed the correctness of the porposed method compared with the Monte Carlo simulation.%本稿では，相関関係がある部分パスに対し，遅延値の期待値を求める手法を提案する．近年，LSIの微細化技術の進歩により，歩留まりの低下が深刻な問題になっている．歩留まり低下の主な原因として，タイミング故障がある．タイミング故障とは，設計時に想定していた様々な性能値から製造時にずれが生じるいわゆる製造ばらつきにより，各FF回路のクロック到着時刻および各FF回路間のパス遅延量がずれるため発生する故障である．歩留まりを増加させるには，チップの状態，特に伝達時間を知ることが重要である．このための方法として，パスディレイテストを利用して，部分パスの遅延値の期待値を推定する手法が提案されている．しかし，その手法は各部分パスが独立であることが条件であった．そこで，本稿では，この手法を相関がある場合に拡張する．ここでは，相関係数により求められる重みを用いて，相関のある変量が独立な変量の線形和として表現されることを利用する．そして，提案手法の計算結果をモンテカルロシミュレーションの結果と比較し，その正当性を示す．