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【24h】

触媒反応生成高エネルギーH_2Oを用いてガラス基板上に成長したZnO膜へのCVD低温バッファー層挿入効果

机译:CVD低温缓冲层插入对使用催化反应产生的高能H_2O在玻璃基板上生长的ZnO膜的影响

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摘要

ZnO thin films were grown through a reaction between dimethylzinc and high-energy H_2O produced by a Pt-catalyzed H_2 O_2 reaction. For the application of transparent conductive thin films, the ZnO films were grown on glass substrates with and without low temperature buffer layers deposited at 200℃. Although crystal orientation along c-axis was not improved by the insertion of the buffer layer, Hall mobility was improved.%白金ナノ粒子表面での水素と酸素の発熱反応を利用して高エネルギーH_2Oを生成、アルキル亜鉛ガスと衝突させ形成した高エネルギーZnOプリカーサを基板に供給、ガラス基板上にZnO結晶膜を成長させた。サファイア基板上と異なりガラス基板上への直接成長では結晶配向性や表面モフォロジーが大きく悪化するために低温バッファー層の挿入により特性が改善出来ないか調べた。結果として、CVDによる低温バッファー層を挿入することで結晶配向性の改善は見られなかったが、直接成長膜に比べ移動度が大きいZnO膜が得られた。
机译:ZnO薄膜是通过二甲基锌与Pt催化的H_2 O_2反应产生的高能H_2O之间的反应而生长的。为了在透明导电薄膜上应用,ZnO薄膜生长在有或没有沉积低温缓冲层的玻璃基板上在200℃时,尽管插入缓冲层并没有改善c轴的晶体取向,但霍尔迁移率有所提高。%利用铂纳米粒子表面的氢和氧的放热反应产生了高能H_2O。将通过与烷基锌气体碰撞而形成的高能ZnO前体供应至基板,以在玻璃基板上生长ZnO晶体膜。与蓝宝石衬底不同,在玻璃衬底上的直接生长显着恶化了晶体取向和表面形态,并且研究了是否可以通过插入低温缓冲层来改善特性。结果,尽管通过CVD插入低温缓冲层并没有改善晶体取向,但是获得了具有比直接生长的膜更高的迁移率的ZnO膜。

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