紙の可視光人工物メトリクスの耐クローン性評価

摘要

紙の可視光人工物メトリック・システムは，可視光を紙に照射した際の反射光パターンを紙の固有の特徴とした認証システムである．このパターンは紙の繊維の絡み方や凝集部分等の内部構造に依存するため，1枚1枚の紙で異なる．この認証システムが，特定の紙に対し，OHPシートや再生紙を素材として印刷的手法により作製したクロ」ンをうまく拒否することが高い確率で期待できるとき，耐クローン性が高いという．耐クローン性は，個別性，読取安定性，耐久性と共に人工物メトリクスにおける重要な要件である．本稿では，特定の紙に対してそのクローンを提示し，それが当該紙として受理される割合を多数の紙により実験的に求めた値CMR（Clone Match Rate）を測定し，当該システムの耐クローン性の評価を行った．%Visible-light paper artifact-metric system is a type of authentication system using visible light patterns of paper as its inherent feature. This feature is a light pattern with tone that is formed from an internal structure, such as an intertwinement, a cohesion part of paper fiber, when it irradiates the visible light to paper. Clone Resistance is one of the important requirements for artifact-metric system as well as Individuality, Stability, and Durability. For a visible light paper artifact-metric system the Clone Resistance against a particular clone such as printed paper or transparent plastic sheet can be evaluated by measuring its Clone Match Rate, which is the probability that the system accept the clone. We conducted several experiments to evaluate Clone Match Rate of several visible-light paper artifact-metric systems.