机译:用于电气筛选和缺陷定位的高级缺陷监视测试结构
crystal defects; electron beam testing; failure analysis; fault diagnosis; integrated circuit testing; integrated circuit yield; optical microscopy; defect localization; defect monitoring test structure; electrical measurements; electrical screening; integrated int;
机译:用于电气筛选和缺陷定位的高级缺陷监控测试结构
机译:识别用于高级器件的非晶态高k电介质中电活性缺陷的空间定位和能量位置
机译:使用棋盘测试结构对实际缺陷轮廓进行建模并提取参数以定位缺陷
机译:用于电气测量和缺陷定位的高级缺陷监视测试结构
机译:先进栅极电介质中电活性缺陷的表征。
机译:简单的筛查测试可用于诊断孤立的凝血因子缺陷。特别提及接触因素缺陷。
机译:基于电阻抗谱的无损检测 混凝土结构中的成像缺陷
机译:先进复合材料结构的先进残余强度退化率建模。第一卷。任务I:初步筛选