机译:识别用于高级器件的非晶态高k电介质中电活性缺陷的空间定位和能量位置
silicon; band structure; dielectric properties; relaxation; electric modulus; defects; X-ray diffraction; ATOMIC LAYER DEPOSITION; LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY; CONDUCTANCE TRANSIENT; INTERFACE QUALITY; GATE DIELECTRICS; SILICON; FILMS; HFO2; SIMULATION; VOLTAGE;
机译:识别用于高级器件的非晶态高k电介质中电活性缺陷的空间定位和能量位置
机译:具有亚纳米等效氧化物厚度的高级高k栅极电介质非晶LaGdO_3栅金属氧化物半导体器件
机译:以高K介电层的导电机理为研究电活性缺陷的工具
机译:识别高级设备中的电活动非视觉缺陷
机译:先进栅极电介质中电活性缺陷的表征。
机译:通过后退火实现具有高k Al2O3栅极电介质的溶胶-凝胶IGZO晶体管的电气性能的改善
机译:亚纳米等效氧化物厚度的高级高k栅介电非晶LaGdO3栅金属氧化物半导体器件