机译:半导体制造中缺陷合格率的建模和预测
cause-effect analysis; crystal defects; integrated circuit modelling; integrated circuit yield; stochastic processes; IC manufacturing; cause-and-effect stochastic model; defect-limited yield forecasting; defect-limited yield modeling; optimal yield-enhancement s;
机译:通过对随机缺陷受限产量建模来降低基线缺陷密度
机译:半导体制造良率预测的直接解模糊协同智能方法
机译:利用过去的制造经验来帮助建立新制造过程的产量预测模型
机译:半导体制造中产量预测的直接解决方案模糊协作智能方法
机译:半导体制造良率和可靠性建模。
机译:结合光学SPOT / HRV图像的简单估计产量(SAFY)农业气象模型算法对半干旱地区的谷物产量进行预测
机译:半导体制造最终试验产量预测的高斯混合模型集群集群集群回归
机译:用于IC制造阶段逆参数建模的半导体制造和神经网络中增产的神经网络模型