...
机译:使用空间非均匀泊松过程的集成电路良率建模
Department of System Engineering, Samsung Electronics, Youngin, Korea;
Model-based clustering; spatial point process; yield model;
机译:用于预测集成电路产量的过度分离的空间缺陷的统计模型
机译:通过空间缺陷的多层贝叶斯建模预测集成电路制造的良率
机译:选择服务系统的到达过程模型:非均匀泊松过程的测试
机译:使用一个或多个工艺实现,使用一个或多个工艺实现光滑灵活的非均匀泊松过程模型
机译:非均质泊松过程的平滑灵活模型适合一种或多种过程实现。
机译:新皮层中注意加工的集成微电路模型
机译:非均质泊松过程和复合泊松过程在与道路事故相关的随机过程建模中
机译:Duane的可靠性增长模型作为非齐次poisson过程。