机译:片上传感器检测重复热机械应力下即将发生的LDMOS晶体管的金属化故障
Robert Bosch Center for Power Electronics, Reutlingen University, Reutlingen, Germany;
LDMOS transistor; early warning sensor; leakage path forming; meander resistance change; metal meander; metallization failure; thermo-mechanical stress;
机译:在循环热机械应力下用于集成LDMOS晶体管的片上金属化的老化传感器
机译:使用锁相环的片上可变性传感器,用于检测和校正参数时序故障
机译:承受瞬态应力的NLDMOS和PLDMOS晶体管的安全工作区分析
机译:提出一种预警指标的建议,以检测循环运行中DMOS晶体管即将发生的金属化故障
机译:嵌入式损坏传感器,使用三荧光发光作为转导机制来检测负载下材料的失效。
机译:在Novacor®N100左心室辅助系统的长期支持过程中检测即将发生的泵故障的可靠测试
机译:集成功率半导体芯片内金属化过程中热机械应力的高效仿真