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Reply to Comments on ``A Causal Redefinition of Failure Rate????????Theorems, Stress Dependence, and Application to Devices and Distributions''

机译:对``故障率的因果重新定义-定理,应力相关性以及对设备和分布的应用''的评论答复

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  • 来源
    《Reliability, IEEE Transactions on》 |1967年第3期|共2页
  • 作者

    Stewart Robert G.;

  • 作者单位

    Lockheed Palo Alto Research Lab., Palo Alto, Calif.;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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