机译:容错存储器的可靠性建模与分析
Electrical Engineering Department, Auburn University, Auburn, Alabama 36830 USA.,;
Error correction; Fault masking; Fault-tolerant memories; Reliability modeling;
机译:实时容错任务模型的可靠性分析
机译:容错处理器阵列的详细建模和可靠性分析
机译:容错网络路由的动态可靠性分析模型
机译:非易失性存储器控制器设计利用容错技术进行记忆可靠性改进
机译:面向容错软件系统的基于覆盖率的测试策略和可靠性建模。
机译:量子存储器和量子处理器之间的容错接口
机译:使用DiR模型的受保护网络的设计和可靠性分析=微分可靠性(DiR)环境中容错网络的尺寸和可靠性分析