机译:大功率GaAs PCSS的失效机理研究
Department of Applied Physics, Xi???an University of Technology, Xi’an, China;
Capacitors; Electric breakdown; Electric fields; Failure analysis; Gallium arsenide; Microscopy; Optical switches; Power semiconductor switches; semiconductor device breakdown; semiconductor device reliability; semiconductor device thermal factors; semiconductor switches;
机译:量子阱结构大功率半绝缘GaAs PCSS的研究
机译:大功率InGaAs-InGaAsP-InGaP应变量子阱激光器中的载流子传输机制
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