机译:硅探测器的中子,质子和伽马射线辐照
机译:氧杂质对中子,质子和伽马射线辐照后的HEP FZ硅探测器辐射硬度的影响
机译:在中子,质子和γ辐射下测试超大规模集成电路的VLSI集成电路和硅条检测器的辐射硬度
机译:用中子和24 GeV / c质子辐照的磁直拉硅探测器的TCT和退火研究
机译:氧气杂质对中子,质子和γ辐射后HEP硅探测器辐射硬度的影响
机译:中子辐照导致碳化硅探测器位移损伤的建模。
机译:能量为1 keV至10 MeV的中子辐照从聚乙烯转化器出来的质子的特性
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