机译:辐射n-MOS晶体管中低频噪声演变与氧化物捕获电荷的比较
机译:MOS晶体管中辐照前的1 / f噪声与辐照后的氧化物俘获电荷之间的关系
机译:金属-氧化物-半导体界面上的电子俘获-去俘获的金属氧化物半导体场效应晶体管的低频噪声建模
机译:通过低频噪声表征分析衬底偏置对无结纳米线晶体管中界面俘获电荷的影响
机译:扩展的氧化物诱捕提取方法,用于低频辐射的MOS晶体管
机译:MOSFET中的低频噪声和电荷捕获
机译:纳米级晶体管中的异常随机电报噪声作为氧化物陷阱的两个亚稳态的直接证据
机译:在电子束辐照下退火浅si / siO $ _2 $界面陷阱 高迁移率金属氧化物硅晶体管
机译:在低剂量率辐射期间增强双极间隔氧化物中的电荷捕获