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机译:热裂变中子在商用SRAM中的反应堆中子诱发的不安中的作用
机译:动态压力下两个商业SRAM上的中子引起的多位翻转
机译:蒙特卡洛模拟可量化高级SRAM中中子引起的多位不安
机译:中子引起的〜10B裂变是高密度SRAM中软错误的主要来源
机译:同时测量裂变片段和迅速中子的热中子诱导的U-235裂变
机译:中,快中子能在中子诱发裂变中的235铀和238铀的裂变碎片质量分布和总动能释放。
机译:研究堆燃料候选U-8 wt%Mo中的等温转变动力学的中子和硬X射线衍射研究
机译:应用反应堆测试商用sRam中子引起的扰动
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