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机译:使用背面激光测试表征功率MOSFET中的单事件熔断
laser beam effects; power MOSFET; semiconductor device testing; backside laser testing; laser irradiations; power MOSFET; safe operating area; single-event burnout; Breakdown voltage; Burnout; MOSFET; Single-Event Burnout (SEB); laser;
机译:功率MOSFET单事件烧断的机理及其表征技术
机译:带有背面激光和不同范围重离子的商用功率MOSFET的SEB表征
机译:SiC功率MOSFET中子引起的单事件烧毁的分析
机译:n通道功率MOSFET单事件熔断的时间相关导通机制分析
机译:铟镓砷化物MOSFET的单一事件瞬变,用于SUB-10 NM CMOS技术
机译:具有多个外延层的150–200 V分离栅沟道功率MOSFET
机译:高压SiC电源MOSFET中单事件烧坏的离子诱导能量脉冲机制及结屏障肖特基二极管
机译:N沟道功率mOsFET中单事件烧毁的温度依赖性