机译:基于电路仿真的多节点电荷收集触发器鲁棒性验证
School of Electrical, Computer and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, USA;
Flip-flop; latch; sequential logic circuits; single event transient (SET); single event upset (SEU); soft-errors;
机译:控制逻辑扰动和多节点电荷收集对40 nm CMOS中的触发器SEU横截面的贡献
机译:CMOS顺序逻辑中多节点电荷收集对误差截面影响的仿真研究
机译:基于动态电流模式逻辑的触发器设计,用于鲁棒和低功耗安全集成电路
机译:多节点电荷收集在高级技术节点的触发器设计中的作用
机译:用于减轻触发器软错误的多节点集合鲁棒性的方法设计方法。
机译:核心核鲁棒性和韧带的基础:每日循环电路中的个体神经元形状
机译:用于数字电路中软错误率计算仿真的电荷收集物理建模