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机译:老化效应和制造偏差对SRAM软错误率的影响
Critical charge (Qcrit); critical charge; radiation event; single event upset (SEU); soft error rate (SER); soft errors; soft-error rate (SER);
机译:超低电压下SRAM中的软错误以及地面环境中次级质子的影响
机译:使用单层和双层过渡金属双硫属金属化物(TMD)MOSFET的随机变化对低压SRAM的单元稳定性和写入能力的影响
机译:PD / SOI SRAM的设计注意事项:栅极泄漏和阈值电压变化的影响
机译:热估算可准确估算BTI老化效应对纳米级SRAM电路的影响
机译:全面质量管理(TQM)和《孙子兵法》战略对可持续竞争优势(SCA)的影响:对马来西亚制造业的研究
机译:二氧化硅在草中的抗草食动物作用的实验证明:对叶片消化率和田鼠生长速率的影响
机译:超低压sRam中的软错误和陆地环境中二次质子的影响