机译:电迁移对无铅焊点中Cu-Sn金属间化合物生长动力学的影响
Anodes; Atomic layer deposition; Compounds; Cathodes; Kinetic theory; Metals; Aging;
机译:SN-0.3Ag-0.7Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.5CeO(2)焊点中界面金属间化合物的扩散模型和生长动力学
机译:电迁移下Sn-0.7Cu倒装芯片焊点中金属间化合物的形成阻止小丘和晶须的生长
机译:Cu,Ni和Fe-42Ni基底上Sn-Ag,Sn-Cu和Sn-Ag-Cu无铅焊料的金属间生长动力学
机译:0.05%Cr对等温老化期间Sn-Ag-Cu无铅焊点的金属间化合物层生长的影响
机译:无铅焊点中铜锡(Cu-Sn)金属间化合物失效机理的表征和建模。
机译:纳米粒子添加对不同热条件下Cu / Sn-Ag-Cu / Cu焊点中金属间化合物(IMCs)的形成和生长的影响
机译:通过SN-0.7CU焊料电迁移诱导的金属间化合物生长的动力学