机译:晶圆级可靠性系统评估SRAM可靠性的扩展建筑物可靠性方法
Centrill Technol Corp Mfg SVP Hsinchu 30288 Taiwan;
Semicond Mfg Int Corp Qual & Reliabil Ctr Shanghai 201203 Peoples R China;
Semiconductor device reliability; Random access memory; Integrated circuit reliability; Reliability engineering; Stress; Aging; Building-in reliability; process reliability; wafer-level reliability; product reliability; SRAM; package-level reliability;
机译:在基于SRAM的FPGA上实现可靠性感知系统的新颖设计方法
机译:基于可靠性模型的第五代新型无线电通信亚6-GHz频段RFCMOS收发器前端电路的可靠性评估和重新设计方法
机译:微处理器系统中SRAM的全面可靠性和老化分析
机译:内置的可靠性是否意味着或多或少的晶圆级可靠性测试?
机译:考虑天然气网络可靠性的电力系统可靠性评估的综合方法
机译:评价一种测量人体姿势的方法及其与颞下颌关节疾病的关系的有效性和可靠性
机译:使用AMSAA扩展可靠性增长模型的战斗系统可靠性差异分析和可靠性增长分析