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机译:基于门控尺寸的多电压设计中桥梁缺陷的单一测试
School of Electronics and Computer Science, University of Southampton, Southampton, U.K.;
Design for testability gate sizing; multiple- $V_{rm dd}$ designs; resistive bridging faults; test cost;
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机译:NETC-2-Bar路缘安装桥梁的碰撞试验和评估。第211卷9.附录H. NETC-pL-2桥梁导轨设计的碰撞测试和评估