机译:使用DQS信号测试DDR-DIMM的电路,该电路可以扩展设计用于SDR(单数据速率)DIMM的现有测试设备,以便可以将其用于测试具有DQS信号的DDR-DIMM
公开/公告号DE10137345A1
专利类型
公开/公告日2003-02-20
原文格式PDF
申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;
申请/专利号DE2001137345
申请日2001-07-31
分类号G11C29/00;G01R31/3193;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 23:42:47