机译:OC48 X切割铌酸锂光学调制器的偏置稳定性:四年的有偏老化测试结果
JDS Uniphase Corp., Bloomfield, CT, USA;
lithium compounds; electro-optical modulation; optical testing; ageing; reliability; failure analysis; optical communication equipment; life testing; OC48 x-cut LiNbO/sub 3/ optical modulators; bias stability; long-term biased aging tests; high relia;
机译:X-Cut LiNbO_3光调制器,使用带间隙嵌入式跳线的光纤无线系统
机译:X-Cut LiNbO3光学调制器,采用间隙嵌入式跳线天线进行光纤无线系统
机译:使用X-Cut和Z-Cut马赫曾德尔调制器的单边带相干模拟光链路的失真比较
机译:在高光学输入功率和偏置电压下INGAASP EA调制器模块的长期寿命测试
机译:对三种测量年龄在11至12岁,五个月的受试者中的接受语言处理能力的测试的比较研究:儿童的令牌测试(Disimoni,1978)青少年的Fullerton语言测试,口头命令子测试(Thorum,1980)临床语言功能评估,处理语言概念和处理口头指示子测验(Semel&Wiig,1980)。
机译:通过简单的图形化测试可以检测荟萃分析中的偏倚。图形测试本身是有偏差的。
机译:X切割LINBO3光调制器使用间隙嵌入式贴片天线用于无线过光纤系统