机译:铝注入的SiO2中捕获电荷的位置
机译:铝注入的SiO2中电子陷阱的表征
机译:来自单个Si / SiO2界面陷阱的电荷泵浦电流:通过电荷泵浦方法直接观察P-b中心和基本陷阱计数
机译:通过从富硅SiO2薄膜中注入大电流来研究SiO2中的电荷陷阱
机译:考虑双向去捕集的SiO2 / HfO2堆叠栅电介质中电荷捕集/捕集机理的研究
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:电荷捕获在MOS2-SiO2接口上的影响对MOS2场效应晶体管的亚阈值摆动的稳定性
机译:AB Initio对晶体 - Si-晶片 - SiO2接口的电荷捕获的研究