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机译:通过从富硅SiO2薄膜中注入大电流来研究SiO2中的电荷陷阱
机译:从富硅的SiO2薄膜向SiO2注入大电流和实验应用
机译:基于模型的Al / ZrO2 / Al2O3 / ZrO2 / SiO2 / Si结构中注入电流的精确分析,用于电荷捕获非易失性存储器件
机译:来自单个Si / SiO2界面陷阱的电荷泵浦电流:通过电荷泵浦方法直接观察P-b中心和基本陷阱计数
机译:(TiN,Mo,Pt)/ Ta2O5:Hf / SiO2 / Si结构中低注入电流下的电荷陷阱
机译:多晶硅和SiO2薄膜的非Prestonian RRs和残余应力对各种类型的SiO2和Si 3N4薄膜的RRs的影响。
机译:电荷捕获在MOS2-SiO2接口上的影响对MOS2场效应晶体管的亚阈值摆动的稳定性
机译:热退火改善al2O 3 / al富al2O3 / siO2叠层薄膜的电荷俘获特性