机译:XFEM研究淬火产生的残余应力中的裂纹路径
Universite de Lyon, EN1SE, LTDS, UMR 5513 CNRS, 58 rue Jean Parot, 42023 Saint-Etienne cedex 2. France;
ESI Group, Le Recamier, 70 rue Robert, 69458 Lyon cedex 06, France;
Universite de Lyon, EN1SE, LTDS, UMR 5513 CNRS, 58 rue Jean Parot, 42023 Saint-Etienne cedex 2. France;
Quenching process; Residual stresses; XFEM; Crack path;
机译:镍基自熔合金涂层研究和测试的不同方法-综述。第2部分:微观结构,粘合强度,开裂行为和残余应力研究
机译:淬火后残余应力概述第二部分:影响淬火残余应力的因素
机译:负载序列和残余应力影响轴承轴承疲劳寿命及局部方法的裂纹路径分析
机译:在存在焊接残余应力的情况下,使用XFEM在高循环热负荷下疲劳裂纹扩展和停止
机译:XFEM和实验方法研究保留奥氏体和残余应力对渗碳钢滚动疲劳的影响
机译:X射线测定高速水淬产生的弹簧钢压缩残余应力
机译:XFEM研究淬火产生的残余应力中的裂纹路径
机译:预测陶瓷中微观结构水平的残余应力和裂纹路径