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机译:通过单轴拉伸试验和原位X射线衍射测量表征单晶硅和电镀镍膜
Univ Hyogo, Grad Sch Engn, Dept Mech & Syst Engn, Heimeji, Hyogo 6712201, Japan;
XRD tensile test; out-of-plane elastic strain; Young's modulus; Poisson's ratio; single crystal silicon; electroplated nickel; size effect; MECHANICAL-PROPERTIES; THIN-FILMS; BENDING TEST; MODULUS; AFM; CARBON;
机译:通过单轴拉伸试验和原位X射线衍射测量表征单晶硅和电镀镍膜
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