首页> 外文期刊>Przeglad Elektrotechniczny >Zastosowanie koherencyjnej interferometrii korelacyjnej do pomiarów topografii powierzchni
【24h】

Zastosowanie koherencyjnej interferometrii korelacyjnej do pomiarów topografii powierzchni

机译:相干相关干涉术在表面形貌测量中的应用

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Do dok?adnej oceny topografii powierzchni cz?sto stosuje si? metody interferencyjne wykorzystuj?ce ?wiat?o bia?e. W referacie przedstawiono metod? opart? na analizie maksymalnej warto?ci stopnia koherencji czasowej dwóch interferuj?cych fal. Analiza ta jest dokonywana jednocze?nie w wielu punktach badanej powierzchni. Metoda ta ma wiele zalet, takich jak szeroki zakres pomiarowy, wysoka dok?adno?? i krótki czas pomiaru. W artykule zaprezentowano wyniki pomiarów topografii ró?norodnych powierzchni otrzymane za pomoc? tej metody.
机译:为了准确评估表面形貌,经常使用干涉法采用白光。本文介绍方法?欧泊?分析两个干扰波的时间相干度的最大值。该分析是在被测表面的许多点同时进行的。该方法具有测量范围广,精度高等优点。且测量时间短。这篇文章介绍了借助的方法获得的各种表面的形貌测量结果。这种方法。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号