机译:在白光下使用扫描干涉仪评估表面形貌
Politechnika koszalińska, wydzia? mechaniczny, zak?ad metrologii i jako?ci, ul. Rac?awicka 15-17, 75-620 Koszalin;
interferometria skaningowa w ?wietle bia?ym; topografia powierzchni;
机译:相干相关干涉术在表面形貌测量中的应用
机译:使用共聚焦激光扫描显微镜评估技术表面的立体特征
机译:用白光干涉法分析衍射光学元件的表面
机译:使用头发中的尼古丁含量作为评估接触烟草烟雾的工具
机译:激光钢材和图像分析在激光和等离子焊接中评估曲面的MicRonequination