...
首页> 外文期刊>Pomiary Automatyka Kontrola >Zastosowanie skaningowej interferometrii w ?wietle bia?ym do oceny topografii powierzchni
【24h】

Zastosowanie skaningowej interferometrii w ?wietle bia?ym do oceny topografii powierzchni

机译:在白光下使用扫描干涉仪评估表面形貌

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

W pracy sprawdzono mo?liwo?ci zastosowania skaningowej interferometrii w ?wietle bia?ym do oceny topografii powierzchni wykonanych z ró?nych materia?ów. W artykule opisano podstawy tej metody oraz wskazano na jej zalety i pewne ograniczenia. W badaniach zastosowano skaningowy interferometr Talysurf CCI 6000 firmy Taylor Hobson, wykorzystuj?cy koherencyjn? interferometri? korelacyjn?. W rezultacie przeprowadzonych badań okre?lono mo?liwo?ci zastosowania tej techniki pomiarowej do oceny topografii powierzchni wykonanych z ró?nych materia?ów oraz podstawowe parametry metrologiczne zastosowanej metody.
机译:这项研究研究了在白光下使用扫描干涉仪评估各种材料制成的表面的形貌的可能性。本文介绍了此方法的基础,并指出了它的优点和一些局限性。该研究使用了泰勒·霍布森(Taylor Hobson)的Talysurf CCI 6000扫描干涉仪,采用了相干方法。干涉仪?相关性?作为测试的结果,确定了使用这种测量技术评估由不同材料制成的表面的形貌的可能性以及所用方法的基本计量参数。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号