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【24h】

Thermionic field emission in p-barrier enhanced InP/InGaAs/InP HEMTs

机译:p势垒增强的InP / InGaAs / InP HEMT中的热电子场发射

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摘要

A model for thermionic field emission in p-barrier enhanced InP HEMTs is presented indicating that a reduction in the gate leakage of those devices is related to an increase in effective barrier thickness. Good agreement between this model and our experimental data is obtained.
机译:提出了p势垒增强型InP HEMT中的热电子场发射模型,表明这些器件的栅极泄漏的减少与有效势垒厚度的增加有关。该模型与我们的实验数据之间取得了很好的一致性。

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