Entstörung von Elektronikbaugruppen

摘要

Während einer EMV-Prüfung lassen sich die inneren logischen Vorgänge eines Prüflings schlecht nachvollziehen. Durch die Verfolgung der elementaren Signale mit einem Oszilloskop während des EMV-Tests würden sich Störungen und deren Ursachen schnell und sicher erkennen lassen. Bei Prüfungen mit Burst- oder ESD-Generato-ren ist die Messumgebung jedoch sehr stark mit Störungen durchsetzt. Dieses Problem lässt sich lösen, indem die empfindlichen Signale per Lichtwellenleiter in ein Oszilloskop übertragen werden.