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Triple-Well Process Cuts Flash-Memory Storage-Cell Size, Boosts Performance

机译:三井技术降低了闪存存储单元的尺寸,提高了性能

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摘要

A triple-well channel-erase NOR technology promises higher density and faster flash memories. Initially, the process will be used by Hyundai Electronics America, San lose, Calif., to produce 16-Mbit flash memories implemented with 0.35-μm design rules. Plans are already in motion, however, to quickly convert to 0.25-μm design rules for higher-density devices. When fabricated on the smaller design rules, the memory cell size is just 0.69 μm~2.
机译:三阱通道擦除NOR技术有望实现更高的密度和更快的闪存。最初,该工艺将由加利福尼亚州圣洛斯市的现代电子美国公司用来生产采用0.35μm设计规则实现的16Mb闪存。但是,已经在制定计划,以快速转换为适用于高密度器件的0.25μm设计规则。当按照较小的设计规则制造时,存储单元尺寸仅为0.69μm〜2。

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