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机译:非晶InGaZnO薄膜晶体管中局部缺陷影响载流子输运的仿真研究
Department of Electronics Engineering, Graduate School of Engineering Science and Technology, National Yunlin University of Science and Technology, Douliu 64002, Taiwan;
Current-voltage characteristic; Current¿¿¿voltage characteristic; defect; thin-film transistor (TFT); thin-film transistor (TFT).;
机译:使用超声波喷射热解沉积对非晶Ingazno基薄膜晶体管的环境/载气的影响
机译:具有有效载流子密度的非晶InGaZnO薄膜晶体管的漏极电流和栅极电容的解析模型
机译:光致电流瞬时光谱法的无定形Ingazno薄膜晶体管中缺陷状态的定量分析
机译:薄膜晶体管作为在非晶有机半导体中研究载流子的探针
机译:非晶硅合金的局域态分布和载流子传输
机译:自对准顶栅共面InGaZnO薄膜晶体管的横向载流子扩散和源漏串联电阻的研究
机译:普遍依赖于竞争弱势的渠道传导性 无定形InGaZnO $ _4 $薄膜的定位和非定位 晶体管